Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych

Zakres tematyczny szkolenia

1. Zdolność systemu pomiarowego.
2. Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru.
3. Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.
4. Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka.
5. Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny).
6. Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R).
7. Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV).
8. Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc).
9. Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem.
10. Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego.
11. Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych.
12. Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4).
13.Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności.
14. Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b).
15. Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania.
16. Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona).
17.Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz.

Ćwiczenia:

• Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka).
• Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel) w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności.
• Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania.
• Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel).
• Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA).

W przypadku szkoleń zamkniętych: ćwiczenia wykonywane mogą być na bazie próbki wyrobów Klienta; wymaga to wcześniejszego przygotowania próbki przez Klienta w uzgodnieniu z trenerem.

Grupa docelowa

• Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym.
• Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych.
• Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC
• Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu.
• Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949.
• Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).
• Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów.
• Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców.
• Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości.
• Inżynierowie procesu.
• Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów.
• Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.

Informacje dodatkowe

• Możliwość identyfikacji słabych punktów kontrolnych w kontroli dostaw, w toku procesu produkcyjnego oraz w kontroli końcowej, szczególnie dla właściwości (charakterystyk) specjalnych.
• Uzyskanie danych do określenia przyczyn nieskutecznej kontroli i ich redukcji, a przez to poprawa jakości dostaw do klienta.
• Ocena trafności doboru metod pomiarowych dla sterowania procesem, a przez to redukcja kosztów błędnych interwencji w procesie produkcyjnym.​