Analiza systemów pomiarowych – metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych

Zakres tematyczny szkolenia

Metody oceny zdolności systemów pomiarowych (MSA) w przypadku pomiarów niepowtarzalnych (np. niszczących lub zmieniających wielkość mierzoną) wg wytycznych branży motoryzacyjnej (MSA-4). Przegląd i powtórka metod MSA dla pomiarów powtarzalnych. Monitorowanie stabilności systemów pomiarowych w przypadku pomiarów niepowtarzalnych,  analiza „R&R” dla pomiarów niepowtarzalnych – ARM, RM, ANOVA. Przykłady, ćwiczenia z wykorzystaniem prostego sprzętu pomiarowego i arkuszy obliczeniowych.

Grupa docelowa

·       Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym.

·       Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych.

·       Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC

·       Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu.

·       Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949.

·       Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).

·       Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów.

·       Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców.

·       Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości.

·       Inżynierowie procesu.

·       Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów.

·       Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.

Metodologia

Wykłady + ćwiczenia, szacunkowy udział części praktycznej szkolenia: 80 %

Informacje dodatkowe

Program:

·       Zdolność systemu pomiarowego.

·       Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru.

·       Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.

·       Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka.

·       Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny).

·       Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R).

·       Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV).

·       Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc).

·       Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem.

·       Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego.

·       Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych.

·       Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4).

·       Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności.

·       Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b).

·       Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania.

·       Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych:  procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona).

·       Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz.

Ćwiczenia:

·       Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka).

·       Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel)
w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności.

·       Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania.

·       Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel).

·       Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA). 

ADRESACI

• Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym.
• Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych.
• Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC.
• Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu.
• Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949.
• Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).
• Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów.
• Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców.
• Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości.
• Inżynierowie procesu.
• Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów.
• Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.

KORZYŚCI DLA PRZEDSIĘBIORSTWA

Możliwość identyfikacji słabych punktów kontrolnych w kontroli dostaw, w toku procesu produkcyjnego oraz w kontroli końcowej, szczególnie dla właściwości (charakterystyk) specjalnych. Uzyskanie danych do określenia przyczyn nieskutecznej kontroli i ich redukcji, a przez to poprawa jakości dostaw do klienta. Ocena trafności doboru metod pomiarowych dla sterowania procesem, a przez to redukcja kosztów błędnych interwencji w procesie produkcyjnym.