Zakres tematyczny szkolenia
PROGRAM I ĆWICZENIA
1. Wprowadzenie. Narzędzia statystyczne w zarządzaniu jakością w kontekście wymagań ISO 9001:2015 (ciągłe doskonalenie, zarządzanie ryzykiem). Charakterystyka Raportu Technicznego ISO/TR 10017: 2005 „Wytyczne dotyczące technik statystycznych odnoszących się do ISO 9001:2000”, podstawowe terminy wg PN-ISO 3534-2:2003 „Statystyczne sterowanie jakością. Terminologia i symbole”. Przegląd metod statystycznych w kontroli dostaw. Zestawienie norm ISO (i innych dokumentów) związanych z metodami statystycznymi w kontroli dostaw.
2. Metodyka badań statystycznych, statystyczne miary jakości. Partia, próbka, tworzenie próbki (rodzaje losowania, weryfikacja losowości), próbka mała, próbka duża. Statystyka opisowa oraz statystyka matematyczna. Podstawowe metody opisu zbioru danych: histogram (rozkład empiryczny), rozkład teoretyczny, parametry opisowe (średnia, mediana, rozstęp, odchylenie standardowe), graficzne metody prezentacji danych (histogram, wykres pudełkowy). Rozkład normalny: parametry, obliczanie frakcji realizacji poza granicami/granicą specyfikacji, reguła trzech sigma, graficzny test normalności. Miary jakości w przypadku oceny alternatywnej – frakcja jednostek niezgodnych, liczba niezgodności na 100 jednostek, rozróżnienie wada/niezgodność. Miary jakości w przypadku parametrów mierzalnych – frakcja realizacji poza granicami /granicą specyfikacji, współczynniki zdolności Cp/Pp, Cpk/Ppk.
3. Statystyczne plany odbiorcze. Podstawowe pojęcia – granica akceptowanej jakości (AQL), jakość graniczna (LQ), średnia jakość po kontroli (AOQ), graniczna średnia jakość po kontroli (AOQL), rodzaje kontroli. Ocena alternatywna – plany odbiorcze według oceny alternatywnej (wg PN-ISO 2859-0, PN-ISO 2859-1, PN-ISO 2859-2, PN-ISO 2859-3, PN-ISO 2859-4), inne możliwości (np. plany z zerową liczbą kwalifikującą). Ocena ze względu na parametry mierzalne – plany odbiorcze dla właściwości mierzalnych (wg PN-ISO 3951). Sekwencyjne plany odbiorcze (m.in. wg ISO 8422).
4. Weryfikacja wybranych hipotez statystycznych – testy statystyczne. Testy do weryfikacji hipotez: o wartości średniej, wariancji, frakcji, o równości dwóch wartości średnich, dwóch wariancji, dwóch frakcji.
5. Elementy statystycznego sterowania procesem (SPC). Kontrola procesu a kontrola odbiorcza. Ocena i interpretacja współczynników zdolności Cp, Cpk, Pp, Ppk. Karty kontrolne dla właściwości mierzalnych i według oceny alternatywnej – uwagi o konstrukcji, szczegółowa interpretacja. Możliwości łączenia metod SPC ze statystycznymi planami odbiorczymi – plany (plany z rodziny CSP: CSP-1,CSP-2,CSP-3, itp – Continuous Sampling Plans).
6. Zarządzanie sprzętem pomiarowym, weryfikacja zdatności systemów pomiarowych (elementy MSA). Kryteria zdatności systemu pomiarowego do nadzorowania/kontroli/odbioru produktu – kwalifikacja w odniesieniu do parametrów mierzalnych, kwalifikacja w odniesieniu do oceny atrybutowej.
7. Podsumowanie, dyskusja.
Ćwiczenia:
Obliczanie empirycznej (z próbki) oraz spodziewanej (procesowej) frakcji realizacji poza granicami specyfikacji.
Dobór statystycznego planu odbiorczego według oceny alternatywnej (wg PN-ISO 2859-0, PN-ISO 2859-1, PN-ISO 2859-2, PN-ISO 2859-3, PN-ISO 2859-4) – zasady wyboru planu, interpretacja funkcjonowania.
Dobór statystycznego planu odbiorczego w przypadku parametrów mierzalnych (wg PN-ISO 3951) – zasady wyboru planu, interpretacja funkcjonowania.
Konstrukcja sekwencyjnego planu odbiorczego (wg ISO 8422) – zasada wyboru, interpretacja w zakresie funkcjonowania.
Testowanie wybranych hipotez statystycznych.
Obliczanie liczności próbki gwarantującej określoną dokładność oceny statystycznej.
Interpretacja współczynników zdolności Cp, Cpk, Pp, Ppk w aspekcie jakości dostawy.
Pozyskiwanie informacji o zachowaniu się procesu (także dostawcy) na podstawie kart kontrolnych Shewharta.
Interpretacja wyników oceny zdatności systemów pomiarowych (parametry mierzalne/kwalifikacja atrybutowa).