1. Zdolność systemu pomiarowego:
przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru,
niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji,
2. Opis zdolności systemów pomiarowych.
3. Definicje i interpretacja:
niepoprawność wskazań (błąd systematyczny),
powtarzalność i odtwarzalność (błędy przypadkowe),
zmienność całkowita a zmienność własna procesu,
rozdzielczość i rozróżnialność,
wskaźniki zdolności: Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R, %PV, ndc,
liniowość i stabilność systemu pomiarowego.
4. Ocena zdolności systemów pomiarowych dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem – wymagania.
5. Metodologia badań zdolności systemów pomiarowych za pomocą analizy R&R:
procedura typu 1,
procedura typu 2 (pełna – metoda rozstępów i średnich ARM),
procedura typu 2 (uproszczona – metoda rozstępów RM),
procedura typu 3.
6. Graficzna prezentacja wyników analizy R&R.
Ćwiczenia:
analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów – analiza przypadku,
wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności Cg, Cgk – analiza typ 1 (samodzielne pomiary i interpretacja wyników),
ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC (samodzielne pomiary i interpretacja wyników),
analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów oraz metodą rozstępów,
analiza graficzna wyników pomiarów – zaawansowane wnioskowanie o systemie pomiarowym.
Opcjonalnie, w zależności od zainteresowań Uczestników:
analiza R&R typ 3 – analiza przypadku kontroli automatycznej,
analiza stabilności systemu pomiarowego – karta kontrolna Xśr-R – analiza przypadku.
Uwagi:
w ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza R&R dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników – wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem,
w przypadku przesłania przez Uczestnika nie później niż 14 dni przed szkoleniem opisu konkretnego problemu związanego z analizą R&R, w czasie ćwiczeń może odbyć się wspólna próba jego rozwiązania – wymagana pisemna zgoda Uczestnika na upublicznienie opisu problemu (bez nazw własnych).
skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.