Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych - szkolenie online

1.  Zdolność systemu pomiarowego. 

2.  Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru. 

3.  Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem. 

4.  Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka. 

5.  Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny). 

6.  Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R). 

7.  Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV). 

8.  Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc). 

9.  Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem. 

10.  Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego. 

11.  Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych. 

12.  Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4). 

13.  Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności. 

14.  Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b). 

15.  Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania. 

16.  Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona). 

17.  Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz. 

Ćwiczenia: 

Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka). 

Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel) w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności. 

Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania. 

Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel). 

Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA). 

W przypadku szkoleń zamkniętych: ćwiczenia wykonywane mogą być na bazie próbki wyrobów Klienta; wymaga to wcześniejszego przygotowania próbki przez Klienta w uzgodnieniu z trenerem. 

KORZYŚCI DLA PRZEDSIĘBIORSTWA

·         Możliwość identyfikacji słabych punktów kontrolnych w kontroli dostaw, w toku procesu produkcyjnego oraz w kontroli końcowej, szczególnie dla właściwości (charakterystyk) specjalnych.

·         Uzyskanie danych do określenia przyczyn nieskutecznej kontroli i ich redukcji, a przez to poprawa jakości dostaw do klienta.

·         Ocena trafności doboru metod pomiarowych dla sterowania procesem, a przez to redukcja kosztów błędnych interwencji w procesie produkcyjnym.

ADRESACI

·         Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym.

·         Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych.

·         Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC.

·         Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu.

·         Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949.

·         Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).

·         Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów.

·         Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców.

·         Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości.

·         Inżynierowie procesu.

·         Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów.

·         Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.

ZASTOSOWANIE

Analiza zdolności systemów pomiarowych (MSA – Measurement System Analysis) stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, tolerancję i zmienność w procesie produkcji), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową.
Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzji o zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu).
Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”, która w sytuacji pomiarów „niepowtarzalnych” (np. pomiary twardości, chropowatości, wytrzymałości, momentów dokręceń czy badania niszczące) wymaga modyfikacji polegającej m.in. na odpowiednim przygotowaniu próbek.
W zakresie MSA mieści się też monitorowanie długoterminowej stabilności systemów pomiarowych (adoptowanymi z SPC metodami), które w porównaniu z okresowym sprawdzaniem/wzorcowaniem lub okresowo wykonywaną analizą „R&R” zapewniają nieporównanie większą skuteczność wykrywania problemów związanych z systemami pomiarowymi w czasie procesu produkcyjnego lub kontrolnego