PROGRAM SZKOLENIA: MSA- Analiza systemów pomiarowych i SPA- Statystyczne sterowanie procesem
Dzień I (MSA)
1.Produkt, proces a system pomiarowy
2. Rodzaje danych
3. Statystyka przemysłowa – ogólne pojęcia
4. Rola systemu pomiarowego
5. Składowe systemu pomiarowego
6. Kalibracja i jej składowe dla przyrządów pomiarowych
7. Powtarzalność i odtwarzalność systemu pomiarowego
8. Metoda średnich rozstępów – zasady i formuły matematyczne
9. Metoda średnich rozstępów – arkusz
10. Metoda ANOVA
11. Różnice w metodach i ich konsekwencje
12.Standaryzacja w systemach pomiarowych
13. Systemy pomiarowe dla pomiarów niszczących – logika działania
Dzień II (SPC)
1. Karta kontrolna – budowa i logika działania
2. Rodzaje zmienności w procesie – podejście do prowadzenia działań usprawniających
3. Przyczyna, skutek i symptom w logice przyczynowo skutkowej
4. Rodzaje kart kontrolnych
5. Karta wartości indywidualnych – budowa i zastosowanie
6. Karta wartości średnich i rozstępów (X-R) – budowa i zastosowanie
7. Stabilność a zdolność procesu
8. Zdolność procesu i jej wskaźniki – Cp. Cpk
9. Projektowanie kart kontrolnych w oparciu o wymaganą zdolność procesu
10. Wdrażanie i utrzymanie SPC w procesie produkcyjnym lub usługowym
11. Problemy w pracy z SPC – podsumowanie
CZAS TRWANIA SZKOLENIA: 2 dni (16h szkoleniowych, 1h szkoleniowa = 45 minut)
