Projektowanie procesów kontroli - warsztaty

Zakres tematyczny szkolenia

Źródła błędów i zmienności w pomiarach, metody ich eliminacji i kompensacji,
• Wymagania i wytyczne przy doborze przyrządów pomiarowych,
• Walidacja systemów pomiarowych dla charakterystyk mierzalnych i dyskretnych, zdolność systemu pomiarowego,
• Ocena przydatności procesu/procedury pomiarowej dla danego zadania pomiarowego,
• Opracowanie dokumentacji związanej z pomiarem (plan kontroli, isntrukcja kontroli, zapisy),
• Ocena systemu pomiarowego pod kątem kontroli, statystycznego sterowania procesem czy nowych projektów.

Ćwiczenia:

• Dobór przyrządu pomiarowego na podstawie wstępnych założeń, rysunku i oceny ryzyka dla kontroli,
• Modelowanie pomiaru i ocena przydatności procesu pomiarowego dla danego zadania pomiarowego,
• Opracowanie planu kontroli, instrukcji kontroli i zapisów,
• Wyznaczanie i interpretacja współczynnika zdolności systemy pomiarowego Cg/Cgk - pomiary na wzorcu i „skalibrowanej sztuce produkcyjnej”, wyznaczanie zdolności, interpretacja uzyskanych wyników, • Wpływ rozróżnialności (rozdzielczości) przyrządu pomiarowego na zdolność systemu pomiarowego – pomiary przyrządami o różnej rozdzielczości, wyznaczanie i ocena zdolności systemu pomiarowego odniesionej do pola tolerancji mierzonej charakterystyki i do zmienności procesu,
• Doskonalenie systemu pomiarowego na podstawie analizy systemu pomiarowego – ocena systemów pomiarowych po wykonaniu serii pomiarów różnymi przyrządami pomiarowymi na wyrobie, podlegającemu kontroli zgodnie z Planem Kontroli,
• Wyznaczenie stabilności przyrządu pomiarowego na podstawie przyjętego czasookresu wzorcowanie i historii wzorcowania,
• Ocena wpływ powtarzalności i odtwarzalności systemu pomiarowego na zdolność procesu – wyznaczenie rzeczywistej zdolności procesu na podstawie obserwowanej zdolności procesu i zdolności systemu pomiarowego,
• Wpływ zdolności systemu pomiarowego na interpretację karty kontrolnej X-R – pomiary detali systemami pomiarowymi o róznej zdolności, wypełnianie i analiza karty kontrolnej X-R,

Ćwiczenia dodatkowe realizowane po uzgodnieniu z uczestnikami szkolenia (alternatywa dla powyższych ćwiczeń):

• Doskonalenie systemu pomiarowego opartego na kontroli wizualnej (analiza dyskretnego systemu pomiarowego metodą Kappa) – przeprowadzenie kontroli wizualnej i/lub za pomocą sprawdzianu GO/NOGO, przeprowadzenie analizy systemu pomiarowego, poprawa skuteczności dyskretnego systemu pomiarowego na podstawie uzyskanych danych, \"

Grupa docelowa

Osoby zajmujące się nadzorowaniem wyposażenia do monitorowania i pomiarów, 
• Osoby zajmujące się doborem wyposażenia pomiarowego i doskonaleniem systemów pomiarowych,
• pracowników izb pomiarowych, 
• Pracownicy działu jakości, 
• Osoby prowadzące projekty, w tym projekty w metodologii six-sigma, 
• Auditorzy wewnętrzni systemu zarządzania jakością.

Uczestnik nauczy się:

• Oceniać charakterystyki specjalne. Wybór ch-k na podstawie rysunku i oceny ryzyka do kontroli.
• Dobierać przyrządy pomiarowe do zadania pomiarowego.
• Tworzyć plany kontroli, instrukcje kontroli i zapisy.
• Wyznaczać zdolność systemów pomiarowych dla cech mierzalnych i dyskretnych i odpowiednio interpretować uzyskane wyniki.
• Oceniać przydatność systemu pomiarowego do kontroli, pomiarów, sterowania procesem i pod kątem nowych projektów.
• Doskonalić procesy pomiarowe poprzez eliminację lub kompensację zakłóceń, zmianę zasady pomiaru, metody pomiaru lub procedury pomiarowej.

Uczestnik pozna dodatkowo:

• Terminy związane z systemami pomiarowymi i ich walidacją.
• Metody statystyczne stosowane w ocenie systemów pomiarowych i procesów produkcyjnych.
• Techniki kart kontroli jakości.

Metodologia

Część teoretyczna poparta ćwiczeniami i warsztatami, praca w grupach, wykorzystanie przyrządów pomiarowych, sprawdzianu GO/NOGO, ćwiczenia rachunkowe na podstawie uzyskanych danych,