Statystyczne sterowanie procesem SPC - poziom zaawansowany - szkolenie online

1. Wprowadzenie, powtórka wiadomości z zakresu podstawowego SPC.

• Podstawy SPC - pojęcia procesu stabilnego (pod kontrolą) i rozregulowanego (poza kontrolą) w znaczeniu statystycznym, statystyczny opis zbioru danych, identyfikacja wyników izolowanych (testy Grubasa, Dixona, Hampela), testy normalności (graficzny, Andersona-Darlinga, inne), ocena zdolności procesu, konstrukcja i posługiwanie się kartami kontrolnymi Shewharta.
• Klasyfikacja zachowania się procesów ze względu na zmienność wg ISO 21747:2006 (wcześniej DIN 55319), ISO 22514-2:2017.

2. Szczegółowa analiza zdolności procesu.

• Przedziały tolerancji naturalnej procesu – wyznaczanie, interpretacja.
• Przegląd strategii oceny współczynników zdolności jakościowej procesu: Cp, Cpk, Pp, Ppk – obliczanie, dokładność oceny (przedziały ufności) i interpretacja.
• Zależności pomiędzy współczynnikami Cp, Cpk, Pp, Ppk.
• Współczynniki zdolności maszyny Cm, Cmk (Pm, Pmk).
• Współczynniki zdolności procesu/maszyny w przypadku niesymetrycznych granic specyfikacji.
• Wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego – metody transformacji rozkładu (transformacje Boxa-Coxa, Johnsona), metoda percentylowa, inne metody.
• Współczynnik drugiej generacji Cmk.
• Funkcja straty Taguchiego.
• Relacja pomiędzy współczynnikami zdolności a frakcją realizacji poza granicami specyfikacji i sigmową skalą jakości (Six Sigma).
• Wpływ zmienności systemu pomiarowego na wyniki oceny zdolności procesu.
• Ocena zdolności procesu w przypadku oceny alternatywnej.

3. Karty kontrolne.

• Czułość kart kontrolnych – dobór liczności próbki, dobór częstości próbkowania, średnia długość przebiegu (ARL), średni czas do zarejestrowania sygnału (ATS).
• Karta kontrolna dla procesów z trendem (np. zużywanie się narzędzia), karta ruchomej średniej (MA), karta wykładniczo ważonej ruchomej średniej (EWMA), karta sum skumulowanych (CUSUM), karta kontrolna z poszerzonymi liniami (dla procesów z Cpk powyżej 1,6), karta kontrolna akceptacji procesu – wyznaczanie linii kontrolnych, właściwy dobór parametrów, interpretacja (czytanie karty), karty kontrolne z autokorelacją danych.
• Porównania innych kart kontrolnych z kartami kontrolnymi Shewharta.
• Klasyczne karty kontrolne (Shewharta) w przypadku zmiennej liczności próbki.
• Karty w przypadku oceny alternatywnej - karta kontrolna ważonej liczby niezgodności na jednostkę – konstrukcja, interpretacja.
• Karty kontrolne w przypadku bardzo dobrych poziomów jakości.

4. Wybrane karty kontrolne w przypadku krótkich serii.

• Kontrola wstępna – prekontrola, konstrukcja i opis „tęczowej” karty, karta odchyleń od wartości nominalnej (DNOM), karty standaryzowane – konstrukcja, interpretacja.

5. Wzajemne relacje pomiędzy SPC a nadzorowaniem aparatury kontrolno-pomiarowej (MSA).

• Współczynniki zdolności systemu pomiarowego Cg, Cgk, oznaki niedostatecznej czułości systemu pomiarowego.

Ćwiczenia:

• SPC podstawowe – przypomnienie. Obliczanie spodziewanej frakcji realizacji poza granicami specyfikacji, ocena podstawowych współczynników zdolności procesu, konstrukcja i posługiwanie się kartami kontrolnymi Shewharta.
• Wyznaczanie przedziałów tolerancji naturalnej procesu – rozkład normalny, rozkład inny od normalnego.
• Wyznaczanie współczynników zdolności procesu w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego (metoda percentylowa), dobór najlepiej pasującego rozkładu, wyznaczanie współczynników zdolności w przypadku niesymetrycznych granic specyfikacji, wyznaczanie przedziałów ufności dla współczynników zdolności.
• Konstrukcja kart kontrolnych MA, EWMA, analiza porównawcza z kartami kontrolnymi Shewharta.
• Konstrukcja i interpretacja karty prekontroli, konstrukcja i interpretacja karty odchyleń od wartości nominalnej DNOM.

KORZYŚCI DLA UCZESTNIKA

Uczestnik nauczy się:

• Identyfikować zapotrzebowanie na stosowanie bardziej zaawansowanych narzędzi SPC.
• W jaki sposób dokonuje się pogłębionej statystycznej analizy danych pochodzących z procesu.
• Praktycznego posługiwania się zawansowanymi narzędziami SPC – dobór narzędzi, zasady rachunkowe i interpretacyjne.

Uczestnik dowie się:

• Jakie są wymagania odnośnie stosowania metod SPC w kontekście współcześnie stosowanych formalnych oczekiwań – Normy serii ISO 9000 (w szczególności ISO 9001:2015), normatywy branżowe, Six Sigma.
• Jakie normy ISO i inne dokumenty określają rachunkowy i interpretacyjny sposób wykorzystania zaawansowanych narzędzi SPC.
• Kiedy, gdzie, przy spełnieniu jakich warunków, wykorzystywać bardziej zaawansowane narzędzia SPC.

ADRESACI

• osoby odpowiedzialne za wdrożenie, utrzymanie i doskonalenie procedur SPC w przedsiębiorstwie,
• osoby odpowiedzialne za jakość, pracownicy działów zapewnienia jakości, inżynierowie jakości, technolodzy, analitycy,
• osoby odpowiedzialne za jakość dostawców, pracownicy działów współpracujących z klientem,
• członkowie zespołów realizujących projekty doskonalące, analitycy zajmujący się analizą i przetwarzaniem danych.

ZASTOSOWANIE

Statystyczne sterowanie procesem (SPC) to jedno z najważniejszych narzędzi statystycznych. Dwa podstawowe zadania SPC to ocena możliwości procesu w odniesieniu do oczekiwań klienta (m.in. wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu) oraz monitorowanie procesu za pomocą kart kontrolnych. Na praktyczne korzystanie z metod SPC składa się strona rachunkowa i interpretacyjna. Do obliczeń może być wykorzystana dostępna aplikacja, natomiast interpretacja wyników należy do Użytkownika. Metodologia SPC nadaje się zarówno do monitorowania procesów produkcyjnych, jak i do nadzorowania procesów pomiarowych, a jej celem jest przede wszystkim zapobieganie niezgodnościom poprzez odpowiednio wczesne wykrywanie destabilizacji procesu i podejmowanie działań mających na celu przywrócenie stabilności i doskonalenie procesu. Wykorzystanie zaawansowanych metod SPC pozwala na bardziej skuteczne i efektywne monitorowanie procesów w porównaniu ze stosowaniem klasycznych kart kontrolnych (Shewharta), szczególnie dla sytuacji nietypowych (np. niesymetrycznych granic specyfikacji, krótkich serii produkcyjnych, wysokich zdolności, zmiennej liczności próbki czy zmienności procesu podlegającej innemu rozkładowi od rozkładu Gaussa). Dostępne metody oceny skuteczności (czułości) kart kontrolnych SPC pozwalają dodatkowo zoptymalizować przyjęte procedury monitorowania procesu.