SPC – karty kontrolne i analiza zdolności procesu

Uczestnicy szkolenia poznają najważniejszy typ analizy stosowanej w statystycznym sterowaniu jakością, czyli karty kontrolne Shewharta i wskaźniki zdolności procesu. Zaznajomią się ze wszystkimi najważniejszymi rodzajami kart kontrolnych: dla pomiarów liczbowych oraz alternatywnych, z naciskiem na te metody, które są najczęściej stosowane w praktyce w różnych branżach. W trakcie szkolenia zostaną omówione także zagadnienia związane z oceną zdolności procesu, począwszy od założeń, jakie muszą spełnić dane, poprzez obliczenie, ocenę i porównywanie wskaźników zdolności, a skończywszy na niestandardowych zagadnieniach takich jak zdolność procesu w przypadku braku normalności rozkładu.

Dla kogo?

• Dla wszystkich, którzy chcą wykorzystywać karty kontrolne i poznać tajniki statystycznego sterowania jakością.
• Dla osób, które zajmują się badaniem zdolności procesów, zarówno w zagadnieniach produkcyjnych jak i w przypadku innych, kluczowych procesów w przedsiębiorstwie np. w ramach strategii Sześć Sigma (Six Sigma)

Co zyskasz?

• Poznasz najważniejsze narzędzia statystyczne z arsenału inżyniera jakości
• Dowiesz się, jak skutecznie wykrywać zakłócenia w procesie
• Poznasz narzędzia Statistica, które pomogą Ci w doskonaleniu procesów produkcyjnych
• Nauczysz się, jak wybrać odpowiednią kartę kontrolną i wdrożyć ją w praktyce z użyciem Statistica – tak, aby mogła być stosowana do bieżących danych produkcyjnych i łatwo modyfikowana
• Poznasz metody analizy danych, po które można sięgnąć w sytuacji, kiedy nie można stosować standardowych kart kontrolnych
• Nauczysz się oceniać zdolność procesu

Program szkolenia

1. SPC – karty kontrolne i analiza procesu
   • Wprowadzenie
   • Jakość a zmienność
   • Losowe i nieprzypadkowe czynniki oddziaływujące na proces
   • Zmienność krótko- i długoterminowa
2. Karty kontrolne liczbowe
   • Karta kontrolna X-śr i R (Wartości średnich i rozstępów)
   • Karta kontrolna X-śr i S
   • Karta pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu (I/MR)
   • Testy konfiguracji
   • Karty krótkich serii
3. Karty kontrolne alternatywne
   • Karta kontrolna C
   • Karta kontrolna U
   • Karta kontrolna Np
   • Karta kontrolna P
4. Wybrane zagadnienia zaawansowane
   • Karty dla rozkładów innych niż normalne
   • Karta kontrolna sum skumulowanych – CUSUM
   • Karta kontrolna wykładniczo ważonej średniej ruchomej – EWMA
5. Wprowadzenie do analizy zdolności procesów
   • Założenia analizy
   • Omówienie wskaźników zdolności procesów
   • Podsumowanie zdolności procesów za pomocą Sześciu Wykresów
6. Przedziały ufności dla wskaźników zdolności
7. Obliczanie zdolności procesów dla rozkładów niegaussowskich