Zakres tematyczny szkolenia
PROGRAM I ĆWICZENIA
1. Źródła błędów i zmienności w pomiarach, metody ich eliminacji i kompensacji.
2. Wymagania i wytyczne przy doborze przyrządów pomiarowych.
3. Walidacja systemów pomiarowych dla charakterystyk mierzalnych i dyskretnych, zdolność systemu pomiarowego.
4. Ocena przydatności procesu/procedury pomiarowej dla danego zadania pomiarowego.
5. Opracowanie dokumentacji związanej z pomiarem (plan kontroli, isntrukcja kontroli, zapisy).
6. Ocena systemu pomiarowego pod kątem kontroli, statystycznego sterowania procesem czy nowych projektów.
Ćwiczenia:
- Dobór przyrządu pomiarowego na podstawie wstępnych założeń, rysunku i oceny ryzyka dla kontroli.
- Modelowanie pomiaru i ocena przydatności procesu pomiarowego dla danego zadania pomiarowego.
- Opracowanie planu kontroli, instrukcji kontroli i zapisów.
- Wyznaczanie i interpretacja współczynnika zdolności systemy pomiarowego Cg/Cgk - pomiary na wzorcu i „skalibrowanej sztuce produkcyjnej”, wyznaczanie zdolności, interpretacja uzyskanych wyników.
- Wpływ rozróżnialności (rozdzielczości) przyrządu pomiarowego na zdolność systemu pomiarowego – pomiary przyrządami o różnej rozdzielczości, wyznaczanie i ocena zdolności systemu pomiarowego odniesionej do pola tolerancji mierzonej charakterystyki i do zmienności procesu.
- Doskonalenie systemu pomiarowego na podstawie analizy systemu pomiarowego – ocena systemów pomiarowych po wykonaniu serii pomiarów różnymi przyrządami pomiarowymi na wyrobie, podlegającemu kontroli zgodnie z Planem Kontroli.
- Wyznaczenie stabilności przyrządu pomiarowego na podstawie przyjętego czasookresu wzorcowanie i historii wzorcowania.
- Ocena wpływ powtarzalności i odtwarzalności systemu. pomiarowego na zdolność procesu – wyznaczenie rzeczywistej zdolności procesu na podstawie obserwowanej zdolności procesu i zdolności systemu pomiarowego.
- Wpływ zdolności systemu pomiarowego na interpretację karty kontrolnej X-R – pomiary detali systemami pomiarowymi o róznej zdolności, wypełnianie i analiza karty kontrolnej X-R.
Ćwiczenia dodatkowe realizowane po uzgodnieniu z uczestnikami szkolenia (alternatywa dla powyższych ćwiczeń):
- Doskonalenie systemu pomiarowego opartego na kontroli wizualnej (analiza dyskretnego systemu pomiarowego metodą Kappa) – przeprowadzenie kontroli wizualnej i/lub za pomocą sprawdzianu GO/NOGO, przeprowadzenie analizy systemu pomiarowego, poprawa skuteczności dyskretnego systemu pomiarowego na podstawie uzyskanych danych.