VDA 5 - analiza systemów pomiarowych wg wymagań VDA - szkolenie online

CELE SZKOLENIA

·       Poznanie wymagań dotyczących metod oceny zdolności i kwalifikacji systemów pomiarowych oraz systemów kontroli alternatywnej („atrybutowej”), wg podręczników Quality Management in the Automotive Industry: (1) „Capability of Measurement Processes”, VDA 5, July 2011, (2) „Measurement and Inspection Processes”, VDA 5, July 2021.

·       Nabycie umiejętności praktycznego wykorzystania i  interpretacji wyników kwalifikacji systemów pomiarowych / systemów kontroli alternatywnej, według VDA 5.

Program szkolenia:

• Wprowadzenie. IATF 16949:2016 – znaczenie i wymagania odnośnie pomiaru. Charakterystyka, zakres wykorzystania oraz analiza porównawcza (różnice, nowości) podręczników „Quality Management in the Automotive Industry. Capability of Measurement Processes”: VDA 5, July 2011 oraz VDA 5, July 2021. Dokumenty związane – Przewodnik wyrażania niepewności pomiaru JCGM 100:2008, związane normy ISO, DIN.
• Definicje, terminologia. Pomiar, proces pomiarowy, system pomiarowy, zmienność procesu pomiarowego (źródła zmienności), rozdzielczość (resolution), błąd pomiaru, rodzaje błędów – przypadkowy, systematyczny, błędy grube (outliers), maksymalny dopuszczalny błąd pomiaru (error limit) MPE, niepewność pomiaru, wynik oceny – dowód zgodności/niezgodności z tolerancją ze względu na niepewność (wg ISO 14253-1).
• Statystyczny opis zmienności. Podstawowe parametry opisowe (statystyki) – średnia arytmetyczna, rozstęp, wariancja, odchylenie standardowe, rozkład empiryczny, rozkład teoretyczny, rozkład normalny (Gaussa).
• Niepewność pomiaru, ocena niepewności, budżet niepewności. Niepewność standardowa (u), niepewność rozszerzona (U), współczynnik poszerzenia (k), niepewność złożona (uc). Metody szacowania niepewności (A – empirycznie, B – analitycznie). Ocena złożonej niepewności pomiarowej, współczynnik czułości (sensitivity coefficient), konstrukcja budżetu niepewności.
• Kryteria kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego ze względu na niepewność. Wyznaczanie i interpretacja współczynników (capability ratios) QMP (dla procesu pomiarowego) oraz QMS (dla systemu pomiarowego). Kryteria kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego ze względu na złożoną niepewność rozszerzoną procesu pomiarowego UMP oraz złożoną niepewność rozszerzoną systemu pomiarowego UMS. Odniesienie współczynnika QMP do procesu (uwzględnienie współczynników zdolności procesu). Wyznaczenie i interpretacja minimalnej szerokości zakresu specyfikacji TOLMIN-UMP , TOLMIN-UMS. Strategie specjalne kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego – małe tolerancje, małe geometryczne elementy, redukcja niepewności poprzez wielokrotny pomiar.
• Technika kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego. Wyznaczanie komponentów niepewności :od rozdzielczości, kalibracji, powtarzalności, odtwarzalności (od operatora, od urządzeń pomiarowych), w tym od interakcji, błędu systematycznego, liniowości (metoda B, metody typu A – metoda prosta, metoda analizy wariancji (ANOVA)), stabilności (stabilność „short-term”, stabilność „long-term”, zastosowanie kart kontrolnych Shewharta), zmienności w obrębie części, temperatury, innych komponentów. Typowy budżet niepewności. Wyznaczanie złożonej oraz rozszerzonej niepewności pomiarowej UMP i UMS. Wyznaczanie współczynników: QMP ,QMS , TOLMIN-UMP , TOLMIN-UMS. Wyznaczanie współczynników: QMP ,QMS w przypadku jednostronnej granicy specyfikacji. Wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności urządzenia pomiarowego Cg , Cgk oraz błędu systematycznego (bias) B (Type I Study). Komponenty niepewności w zależności od modelu procesu pomiarowego.
• Analiza wariancji (ANOVA) w kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego. Zasada analizy wariancji (ANOVA) – jednoczynnikowa analiza wariancji, dwuczynnikowa analiza wariancji, interakcja. Wykorzystanie ANOVA w kwalifikacji systemu pomiarowego ze względu na powtarzalność i odtwarzalność.
• Analiza regresji liniowej w kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego. Zasada analizy regresji. Wyznaczanie równania linii prostej regresji. Wykorzystanie analizy regresji w ocenie liniowości.​
• Kwalifikacja procesu pomiarowego w przypadku oceny alternatywnej. Kwalifikacja bez wykorzystania wartości referencyjnych – technika przeprowadzenia oceny, test niezależności chi-kwadrat (Bowker Test), zasady wnioskowania. Kwalifikacja z wykorzystaniem wartości referencyjnych (metoda krótka, metoda długa (ocena skuteczności), współczynnik zgodności ocen kappa Cohena, kappa Fleissa, zgodności Kendalla). Ocena rozszerzonej niepewności pomiarowej dla procesu pomiarowego UATTR oraz kwalifikacja procesu pomiarowego na podstawie współczynnika QATTR – metoda detekcji sygnałów Metoda analityczna.
• Wybrane aspekty zarządzania procesem pomiarowym wg VDA 5 (July 2021). Planowanie procesu kontroli, optymalizacja systemu/procesu pomiarowego, wybór systemu pomiarowego, dokumentacja i raportowanie dowodu na zgodność, postępowanie z nieodpowiednim systemem/procesem pomiarowym.
• Podsumowanie, dyskusja. Porównanie wymagań i technik kwalifikacji systemów pomiarowych według VDA 5 oraz AIAG („Measurement System Analysis - MSA)”,4th Ed., 2010).

Ćwiczenia:

• Ogólna statystyczna analiza danych (parametry opisowe, histogram, rozkład normalny, graficzny test normalności, identyfikacja wyników izolowanych – test Grubbsa).
• Ocena komponentów niepewności, wyznaczanie budżetu niepewności.
• Kwalifikacja procesu pomiarowego i systemu pomiarowego według wymagań VDA 5 – studium przypadków.
• Kwalifikacja procesu pomiarowego i systemu pomiarowego według wymagań VDA 5 – przykłady rachunkowe.
• Ocena zdolności urządzenie pomiarowego – wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności Cg, Cgk oraz błędu systematycznego B. Ocena istotności statystycznej błędu systematycznego B – test t-Studenta.
• Ocena powtarzalności (EV) za pomocą jednoczynnikowej analizy wariancji (ANOVA).
• Ocena powtarzalności (EV) i odtwarzalności (AV) za pomocą dwuczynnikowej analizy wariancji (dwuczynnikowa ANOVA z interakcją, bez interakcji).
• Ocena liniowości – metoda prosta, metoda analizy wariancji (ANOVA).
• Analiza porównawcza kwalifikacji systemu pomiarowego według VDA 5 oraz AIAG.
• Kwalifikacja procesu pomiarowego w przypadku oceny alternatywnej – test Bowkera, porównanie ocen – wyznaczanie współczynników kappa Cohena oraz kappa Fleissa
• Kwalifikacja procesu pomiarowego w przypadku oceny alternatywnej – metoda detekcji sygnałów,  metoda długa.

ADRESACI

• Osoby zajmujące się metrologią, kwalifikacją systemów pomiarowych, inżynierowie jakości.
• Pracownicy działów rozwoju.
• Liderzy i członkowie zespołów doskonalących.

KORZYŚCI DLA UCZESTNIKA

Korzyści dla Uczestnika:

Uczestnik uczy się:

·       Identyfikować zapotrzebowanie na stosowanie metod kwalifikacji procesów i systemów pomiarowych / systemów kontroli alternatywnej („atrybutowej”), według wymagań VDA 5.

·       Dokonywania wyboru metod kwalifikacji procesów/systemów pomiarowych według VDA 5 .

·       Praktycznego posługiwania się narzędziami kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego według VDA 5 – zasady rachunkowe i interpretacyjne.

Uczestnik dowie się:

·       Jakie są wymagania VDA 5 odnośnie kwalifikacji procesów i systemów pomiarowych / systemów kontroli alternatywnej („atrybutowej”).

·       Według jakich kryteriów ocenia się zdatność procesu i systemu pomiarowego według VDA 5.

·       Jak interpretować wyniki kwalifikacji procesów i systemów pomiarowych według VDA 5.