Monitorowanie stabilności i zdolności systemów pomiarowych za pomocą kart kontrolnych SPC

Zakres tematyczny szkolenia

 PROGRAM I ĆWICZENIA

1.     Zdolność i stabilność procesu produkcyjnego oraz systemu / procesu pomiarowego (powtórka):
·  przyczyny i składniki zmienności wyników pomiarów (przyczyny normalne i specjalne, PV, EV, AV, R&R, bias),  
·  zdolność a stabilność procesu / systemu,
·  skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem, błędy I i II rodzaju,
·  zdolność krótkoterminowa (capability) a długoterminowa (performance), wskaźniki Cp, Cpk, Pp, Ppk,
·  karty kontrolne SPC Shewharta: cele, konstrukcja karty, symptomy niestabilności procesu,
·  zdolność systemu pomiarowego, wskaźniki %Re, Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R, %PV, ndc,
·  prezentacja graficzna wyników analiz R&R.
2.     Monitorowanie stabilności procesu (systemu) pomiarowego za pomocą karty pojedynczych pomiarów i ruchomego rozstępu (X-mR), karty średniej i rozstępu (Xśr-R), karty średniej i odchylenia standardowego (Xśr-S) oraz karty odchyłek i rozstępu (Z-R):
·  wybór karty,
·  zapewnienie stanowiska (wyrób wzorcowy / wzorzec, metoda pomiarowa, warunki, personel, zapisy),
·  projekt karty: wyznaczanie granic kontrolnych metodą stabilizacyjną i projektową, zgodnie z zasadami SPC i MSA,
·  prowadzenie karty, interpretacja sygnałów,
·  prowadzenie więcej niż jednej karty kontrolnej (wykresu kontrolnego) dla systemu pomiarowego – dla kilku wartości charakterystyki w zakresie tolerancji, dla kilku charakterystyk,
·  postępowanie w przypadku wymiany przyrządu pomiarowego na stanowisku.
3.     Szacowanie wskaźników zdolności systemów pomiarowych na podstawie kart kontrolnych:
·  ocena błędu systematycznego (bias) i powtarzalności (wskaźniki Cg, Cgk, %EV), ocena błędu systematycznego za pomocą testu statystycznego (Bias Study wg MSA-4),
·  ocena powtarzalności i odtwarzalności (wskaźniki %EV, %AV, %R&R, ndc).
Ćwiczenia:
·  procedura typ-1: Cg, Cgk – ocena krótkoterminowej stabilności przyrządu – analiza przypadku (powtórka),
·  procedura typ-2: analiza R&R – ocena krótkoterminowej stabilności systemu pomiarowego - analiza przypadku (powtórka),
·  nadzorowanie stabilności systemu (procesu) pomiarowego za pomocą kart kontrolnych X-mR, Xśr-R, Xśr-S, Z-R (analizy przypadków na podstawie symulowanych danych oraz samodzielne pomiary kontrolne):
-   wyznaczenie granic kontrolnych metodą stabilizacyjną,
-   wyznaczenie granic kontrolnych metodą projektową (na podstawie posiadanej lub wymaganej zdolności),
-   prowadzenie karty,
-   interpretacja przebiegu wykresu kontrolnego,
-   szacowanie wskaźników zdolności za wybrany okres użytkowania systemu pomiarowego.
Uwaga: w ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników – wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem w celu ustalenia szczegółów technicznych.

Grupa docelowa

• ​osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym,
• osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów do kontroli wyrobu / nadzorowania procesu,
• pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych,
• pracownicy działów jakości / kontroli jakości,
• osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt),
• osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów do produkcji.

Informacje dodatkowe

Uczestnik nauczy się:
·       dobierać kartę kontrolną do nadzorowania danego systemu pomiarowego,
·       dobierać granice kontrolne metodą stabilizacyjną lub projektową, zgodnie z regułami SPC i MSA,
·       prowadzić kartę stabilności dla systemu pomiarowego,
·       szacować i oceniać błąd statystyczny przyrządu pomiarowego („bias”) na podstawie karty kontrolnej,
·       określać wskaźniki Cg, Cgk na podstawie karty kontrolnej,
·       szacować i oceniać błąd przypadkowy systemu pomiarowego (powtarzalność przyrządu EV, odtwarzalność wyników AV) na podstawie karty kontrolnej,
·       określać wskaźniki zdolności systemu pomiarowego (%EV, %AV, %R&R, ndc) na podstawie karty kontrolnej,
·       kwalifikować (rekwalifikować) system pomiarowy do wykonywania zadań w kontroli jakości i/lub sterowaniu procesem na podstawie okresowej oceny przebiegu karty kontrolnej,
·       nadzorować i oceniać kwalifikacje pomiarowe personelu (i ich ewentualną zmienność) na podstawie karty kontrolnej.
Uczestnik dowie się: 
·       co oznacza stabilny i zdolny system pomiarowy i dlaczego jest to ważne,
·       jakie korzyści płyną z nadzorowania stabilności systemu (procesu) pomiarowego za pomocą kart kontrolnych,
·       w jaki sposób założyć i prowadzić w/w karty kontrolne stabilności i czy mogą one stanowić także dowód zdolności systemu pomiarowego,
·       w jaki sposób przygotowywać personel i niezbędne wyposażenie do prowadzenia kart stabilności systemu (procesu) pomiarowego,
·       w jaki sposób szybko i skutecznie identyfikować momenty utraty przez system pomiarowy oczekiwanych własności metrologicznych i w ten sposób przeciwdziałać nadmiernym, nieakceptowalnym błędom pomiarów, które mogą doprowadzić do akceptacji wyrobu niezgodnego i poważnej reklamacji klienta,
·       jakie są możliwości interpretacji przebiegu karty kontrolnej pod kątem identyfikacji przyczyn niestabilności (nadmiernych błędów) systemu pomiarowego w celu zaplanowania trafnych działań korygujących,
·       jakie są dodatkowe możliwości rozszerzenia karty kontrolnej na kilka wartości charakterystyki w obrębie jej przedziału tolerancji lub na kilka charakterystyk w obrębie zakresu pomiarowego przyrządu,
·       w jaki sposób karty stabilności systemów pomiarowych mogą pomóc w planowaniu MSA,
·       jak używać otrzymane arkusz obliczeniowe (xlsx).