Zakres szkolenia:
- Podstawowe pojęcia i oznaczenia statystyczne – populacja, próbka, reprezentatywność danych
- Źródła zmienności w procesach – przyczyny ogólne i specjalne
- Podstawowe parametry rozkładu procesu i ich ocena – wyśrodkowanie, rozrzut, kształt
- Zmienność w procesie pomiarowym a zmienność procesu produkcyjnego
- Podstawowe pojęcia metrologiczne (pomiar, rozdzielczość, wartość rzeczywista, wartość odniesienia, urządzenie pomiarowe)
- Aspekty oceny systemów pomiarowych – powtarzalność, odtwarzalność i dokładność
- Optymalizacja badań systemów pomiarowych w oparciu o model PISMOEA
- Wpływ systemu pomiarowego na ocenę zdolności procesu i poprawną kwalifikację wyrobu
- Procedura typu I (badanie Cg/Cgk) – wstępna ocena powtarzalności i dokładności systemu pomiarowego
- Procedura typu II - badanie GRR metodą ARM
- zasady stosowania, dobór próbek do badania
- interpretacja algorytmu obliczeniowego (MS Excel)
- interpretacja współczynników AV, EV, GRR, PV i TV
- interpretacja współczynnika ndc (number of distinct categories)
- wyznaczanie współczynnika %GG w odniesieniu do zmienności próbek, tolerancji lub zdolności procesu
- metoda ANOVA - omówienie
- pojęcie interakcji i jego praktyczne zastosowania
- porównanie a wyników metodą ARM oraz ANOVA
- eksperyment pomiarowy: badanie GRR cech ciągłych
- Procedura typu III (badanie GRR w systemie bez wpływu operatora) - założenia, opis badania
- Badanie GRR w pomiarach niepowtarzalnych
- założenia dotyczące analizy systemów do pomiarów niepowtarzalnych
- przygotowanie próbek – warunki niezbędne do uzyskania pozytywnego wyniku badania
- zasady przeprowadzania eksperymentu (model eksperymentu, randomizacja)
- analiza danych metodą ANOVA - interpretacja wyników
- Atrybutywne systemy pomiarowe:
- wprowadzenie, przygotowanie próbek, warunki przeprowadzania badania
- metoda kappa: obliczenia i interpretacja wyników
- ocena i interpretacja efektywności, fałszywych alarmów oraz błędnych akceptacji.
- eksperyment pomiarowy: wykorzystanie metody kappa w ocenie wzrokowej
- metoda detekcji sygnału: warunki stosowania, przygotowanie próbek, przeprowadzenie eksperymentu, obliczenia i interpretacja wyników
- Zalecenia podręcznika AIAG MSA oraz wymagania normy IATF 16949 w zakresie planowania i oceny systemów pomiarowych
- Wybrane wymagania specyficzne klientów w zakresie oceny systemów pomiarowych (Ford, VDA)
- Szczególne przypadki systemów pomiarowych (nieopisane w podręcznikach)
- Podsumowanie szkolenia – pytania i odpowiedzi
